ATQ-4030大行程影像閃測儀，在先進的大視野、大景深一鍵閃測技術(shù)上，通過構(gòu) 建傳統(tǒng)影像儀運動平臺和大行程拼接技術(shù)，充分發(fā)揮閃測和影像的雙重優(yōu)勢，進一步提 升閃測測量的行程和效率。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據(jù)工件的形狀 自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實現(xiàn)一鍵式快速精測量。

一鍵閃測，批量更快

1．任意擺放產(chǎn)品，無需夾具定位，自動匹配工件坐標系，一鍵測量； 

2．支持CAD圖紙導入，一鍵自動匹配測量； 

3．CNC模式下，可快速精地進行批量測量。 

        計算精，穩(wěn)定可靠

1．高分辨率鏡頭，亞像素圖像處理，高精度算法分析； 

2．程序自動對焦，排除人為測量操作干擾，且重復聚焦一致性高； 

3．自動識別測量部位，每次都能獲得統(tǒng)一穩(wěn)定的測量結(jié)果。 

       強大的補償、標定與計算功能

       支持鏡頭畸變補償，有效降低因鏡頭畸變帶來的測量誤差

       將傳統(tǒng)像素校準、中心補償與畸變校準算法集成在一起，可一鍵解決標定問題

       支持移動式工作機臺拼接測量，并提供多種補償方式，提升機臺精度與穩(wěn)定性

       獨特的尋邊和過濾算法，大幅提升邊緣抓取的穩(wěn)定性

       特有的亞像素算法，顯著提升邊緣精度與重復性

       深入優(yōu)化的定位與補償算法，極大縮短優(yōu)良測量時間，真正實現(xiàn)閃測效果

       根據(jù)不同用戶偏好，支持多種數(shù)據(jù)結(jié)果呈現(xiàn)格式

       獨有的特征匹配算法，支持復雜特征匹配與多工件測量

      支持按比例保存拼接后的捕獲的源圖，源圖可供客戶其它分析使用

      完整的元素提取幾何測量功能

可對點、線、圓弧、圓、矩形、橢圓、鍵槽(腰型特征)、開曲線、閉曲線、平面、圓柱、圓錐、球等幾何元素進行測量。當Z軸增加測頭或激光位移傳感器等設備后還可對3D圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內(nèi)的面進行測量。根據(jù)元素的實際特征，每種元素可采用多種不同的方法測量。尋邊結(jié)束即可直接獲取出元素的坐標值、長度、面積、體積等數(shù)據(jù)。

     支持源圖保存功能

     軟件支持將拼接出來的源圖按照自定義比例進行導出。

      支持基于CAD導入的測量功能

可以直接用CAD軟件繪制尺寸圖，導入軟件后即可實現(xiàn)自動測量，無需采點和尋邊。非常方便對形狀復雜或不規(guī)則圖形進行坐標測量和輪廓對比測量。

       大行程移動平臺結(jié)構(gòu)

1．超大行程結(jié)構(gòu)，突破閃測儀行程小的局限； 

2．精密大理石機臺，穩(wěn)定性好，精度高； 

3．精密線性滑軌和傳動系統(tǒng)，伺服控制系統(tǒng)。 

4．三軸全自動可編程檢測，實現(xiàn)復雜特征批量檢測； 

       操作簡單，輕松無憂

1．無需復雜培訓，都能很快上手操作。 

2．簡潔的操作界面，能輕松設定和測量； 

3．測量現(xiàn)場立即評價測量尺寸偏差，一鍵生成統(tǒng)計分析、檢測結(jié)果報告等。 

       功能豐富，自動報表

軟件分為測量設定、單視野測量、CNC拼接測量、自動批量測量、統(tǒng)計分析五大功能模塊； 2．自動輸出SPC分析報告，可輸出統(tǒng)計值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制圖（如 均值與極差圖、均值與標準差圖、中位數(shù)與極差圖、單值與移動極差圖）。

       應用領(lǐng)域

ATQ閃測儀可用于機械、模切輔料、手機、印刷電路板、模具、刀模刀具、低壓 電器、精密沖壓、屏蔽罩殼、磁性材料、接插件、連接器、端子、家電、醫(yī)療器械、 鐘表、注塑、五金、橡膠、計量檢測（R規(guī)&篩網(wǎng)）等領(lǐng)域。

         技術(shù)參數(shù)